精密球墨鑄件

球墨鑄件的檢測主要包括尺寸檢查、外觀和表麵的目視檢查、化學成（chéng）分分析和力學性能試驗，對於要求比較重要或鑄造工藝上容易產生問題的鑄件，還需要進行無損檢測工作，可用於球墨鑄件（jiàn）質（zhì）量檢（jiǎn）測的無損檢測技術包括液體滲透檢測（cè）、磁（cí）粉檢測、渦流（liú）檢測（cè）、射線檢測、超聲檢測（cè）及振動檢測等。

一、球墨鑄件表麵及（jí）近（jìn）表麵缺陷的檢測

1、液體滲透檢測

液體（tǐ）滲透檢測用來檢查鑄件表麵上的各種開口缺陷，如表麵裂紋、表麵針孔等肉眼難以發現的缺陷。常用的滲透檢測是著色檢測，它是（shì）將具有高（gāo）滲透能（néng）力（lì）的有色（一般為紅色）液體（滲透（tòu）劑）浸濕或噴灑在鑄件表麵上，滲透劑滲入到開口缺陷裏麵，擦去表（biǎo）麵（miàn）滲透液層，再將易幹的顯示劑（也叫顯像劑（jì））噴灑到鑄件表麵（miàn）上，待將殘留在開口缺陷中的滲透劑吸出來後（hòu），顯（xiǎn）示劑就被染色，從而可以反映（yìng）出缺陷的形狀（zhuàng）、大小和分布情況。

2、渦流檢測

渦流檢測適用於檢查表麵以下一般（bān）不大於6～7MM深（shēn）的缺陷。渦流檢測分放置式線圈法和穿過式線圈法2種。當試件（jiàn）被放在通有交（jiāo）變電流的線圈附近時，進入試件的交變（biàn）磁場可在試件中感生出方向與激勵磁場相垂直的、呈渦流狀流動的電流（渦流），渦流會產生一與激勵磁（cí）場方向相反的磁場，使（shǐ）線圈中的原磁場有部分減少，從而引（yǐn）起線圈阻（zǔ）抗的變化。如果鑄（zhù）件表麵存在缺陷（xiàn），則渦（wō）流（liú）的（de）電特（tè）征會發生畸變，從而檢測出缺陷的存在，渦流檢測的主要缺點是不能直觀顯示探（tàn）測出的缺陷大小（xiǎo）和形狀，一般隻能確（què）定出缺陷所在表麵位置和，另外（wài）它對工件表麵上小的開口缺陷的（de）檢出靈敏（mǐn）度不如滲透檢測。

3、磁粉檢（jiǎn）測（cè）

磁（cí）粉（fěn）檢測適合於檢測表麵缺陷及表麵（miàn）以下數毫米深的缺陷，它需要直流（或交（jiāo）流）磁化設備和磁（cí）粉（或磁懸浮液）才能進行檢測操作。磁化設備用來在鑄件內外表麵產生（shēng）磁（cí）場，磁粉或磁懸浮液用來顯示缺陷。當在鑄件範圍內產生磁場時，磁化區域內的缺陷就會產生漏磁（cí）場，當撒上磁粉或懸浮液時，磁粉被吸住，這（zhè）樣就可以顯示出缺陷來。這樣顯示（shì）出的缺陷基本上都是橫切磁力（lì）線的缺陷，對於平行於磁力（lì）線的長條型缺陷則顯示（shì）不（bú）出來，為此，操作（zuò）時需要不斷改變磁（cí）化（huà）方向，以能夠檢（jiǎn）查出未知方向的各個缺陷。

二、鑄件內部缺陷的檢測

對於內部缺陷，常用的無損（sǔn）檢測方法是射線檢測和超聲檢測。其中射線檢測效果   好，它能夠反映內部缺陷種類、形狀、大小和分布（bù）情況的直觀圖（tú）像，但對於大厚度的大型鑄件，超聲檢測是很的（de），可以比較   地測出內部缺陷的位置、當量大小和（hé）分布情況。

1、射線檢測（微焦點XRAY）

射線檢測，一（yī）般用X射線（xiàn）或γ射線作為射線（xiàn）源，因此需要產生（shēng）射線（xiàn）的設備和其他附屬設施（shī），當工件置於射線場照射時，射線的輻射強度就會受到鑄件內部缺陷的影響。穿過鑄件射出的（de）輻射強度隨著缺陷（xiàn）大小、性質的不同而有局部的變化，形成缺陷的射線圖像（xiàng），通過射線膠片（piàn）予以（yǐ）顯像記錄，或者通過熒光屏予以實時檢測觀察，或者（zhě）通過輻射計數（shù）儀檢測（cè）。其中通過射線膠片（piàn）顯像記錄的方法是（shì）   常用的（de）方法，也就是通常所說的射線照相檢測，射（shè）線照相所反映出來的缺陷圖像是直觀的，缺陷形狀、大（dà）小、數量、平麵（miàn）位置和分布（bù）範圍都（dōu）能呈（chéng）現出來，隻是缺（quē）陷一般不能反映（yìng）出來，需要（yào）采取措施（shī）和計算才能確定。

2、超聲檢測

超聲檢測也可用於（yú）檢查內部缺陷，它是利用具有高頻聲能的聲束在鑄件內部的傳播中，碰到內部表麵或缺陷時產生反射而發（fā）現（xiàn）缺陷。反射聲能的大小是（shì）內表麵或缺陷的指向性和性質以及這種反射體（tǐ）的聲阻抗的函數，因此可以應用各種缺陷或內表麵反（fǎn）射（shè）的聲能來檢測（cè）缺陷的存（cún）在位（wèi）置、壁厚（hòu）或者表麵下缺陷的。超聲（shēng）檢測作為一種應用比較廣泛的無損檢測手（shǒu）段，其主要（yào）優勢表現（xiàn）在：檢測，可以探測細小（xiǎo）的裂紋；具有大的穿透能力，可以探測厚截麵鑄件。其主要局限性在於：對於輪廓尺寸複雜和指（zhǐ）向性不好（hǎo）的斷開性缺陷的反射波形解釋困難；對於不合意的內部結構，例如晶粒大小、組織結構、多（duō）孔性、夾雜含量或細（xì）小的分散析（xī）出物等，同樣妨礙波形解釋；另外，檢測時需要參考標準試塊。